產(chǎn)品系統(tǒng)NEWS CENTER
在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁(yè)-產(chǎn)品系統(tǒng)-橢偏儀系列-專用型橢偏儀-SE-i 光譜橢偏儀
簡(jiǎn)要描述:紅外橢偏儀,SE-i光譜橢偏儀針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化開發(fā),可通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量,橢偏測(cè)量頭快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析
產(chǎn)品型號(hào): 更新時(shí)間:2024-07-04 瀏覽次數(shù):1315
廠家實(shí)力
Manufacturer Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY詳細(xì)介紹
一、概述
SE-Vi 是一款集成式原位光譜橢偏儀,針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍 膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化 開發(fā),快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析。 |
二、測(cè)試案例
成膜工藝監(jiān)控
膜厚表征
三、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于金屬薄膜、有機(jī)薄膜、無(wú)機(jī)薄膜的物理/化學(xué)氣相沉積,ALD沉積等光學(xué)薄膜工藝過(guò)程中實(shí)際原位在線監(jiān)測(cè)并實(shí)時(shí)反饋測(cè)量物性數(shù)據(jù)。
技術(shù)參數(shù)
武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國(guó)內(nèi)專業(yè)從事橢偏儀以及光學(xué)納米測(cè)量設(shè)備研發(fā)、制造與銷售的高新技術(shù)企業(yè),公司由多位具有二十多年偏振光學(xué)測(cè)量經(jīng)驗(yàn)的專家聯(lián)合創(chuàng)辦,與華中科技大學(xué)緊密合作,是國(guó)內(nèi)橢偏光學(xué)儀器領(lǐng)域頗具優(yōu)勢(shì)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。
公司注冊(cè)于武漢東湖國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向全球,為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導(dǎo)體、光伏太陽(yáng)能、平板顯示、LED照明、存儲(chǔ)、生物、醫(yī)藥、化學(xué)、電化學(xué)、光學(xué)鍍膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。
產(chǎn)品咨詢
相關(guān)產(chǎn)品
型號(hào):
型號(hào):
型號(hào):
027-87001728
關(guān)注我們
微信賬號(hào)
掃一掃
手機(jī)瀏覽
Copyright©2025 武漢頤光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):鄂ICP備17018907號(hào)-2 sitemap.xml 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸